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X-射線衍射XRD（Wide Angle X-rayDiffraction）主要是對照標(biāo)準(zhǔn)譜圖分析納米粒子的組成，分析粒徑，結(jié)晶度等，一般要求納米粒子的尺寸在幾個(gè)納米到100納米以內(nèi)。復(fù)達(dá)檢測機(jī)構(gòu)可提供XRD圖譜分析測試服務(wù)，CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，主要以科研、檢測為主，能為您解答工業(yè)問題診斷、未知物檢測鑒定、材料及化工品失效檢測、成分分析、性能測試等服務(wù)。

XRD圖譜分析檢測范圍

石墨烯、石墨、非晶、聚苯胺、二氧化鈦、聚合物、鎢酸鉍、聚丙烯、椰殼活性炭、氮化碳、鈣鈦礦、晶胞、陶瓷粉末、納米纖維素、垢樣、石英、晶體、氧化鎢、水泥、混凝土、介孔二氧化鈰、樹脂、氧化鋅等。

XRD圖譜分析檢測標(biāo)準(zhǔn)（部分）

1、YB/T 5360-2020 金屬材料 定量極圖的測定 X射線衍射法

2、GA/T 1422-2017 法庭科學(xué)常見火炸藥組分檢驗(yàn) X射線衍射法

3、GB/T 36655-2018 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法

4、SN/T 3514-2013 電工鋼晶粒取向與無取向鑒定方法 X射線衍射測定織構(gòu)法

5、ISO 22278-2020 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷，高級(jí)工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測試方法

6、GB/T 38939-2020 鎳基合金分析 多元素含量的測定 火花放電原子發(fā)射光譜分析法(常規(guī)法)

XRD圖譜分析檢測項(xiàng)目

xrd衍射圖譜分析、xrd圖譜特征峰分析、xrd圖譜晶粒尺寸分析等。

XRD圖譜分析檢測流程

1、聯(lián)系客服，溝通檢測需求；

2、根據(jù)實(shí)際情況確定樣品遞送流程，上門取樣/送樣/郵寄樣品；

3、對樣品進(jìn)行初步檢測，獲取樣品的特性以及相關(guān)指標(biāo)；

4、根據(jù)客戶的需求，根據(jù)檢測經(jīng)驗(yàn)及標(biāo)準(zhǔn)方法，定制試驗(yàn)方案；

5、進(jìn)行試驗(yàn)，得到試驗(yàn)數(shù)據(jù)，出具測試報(bào)告；

6、完善的售后服務(wù)，可隨時(shí)咨詢；

檢測報(bào)告有哪些作用?

1、為產(chǎn)品提供進(jìn)出口服務(wù)。

2、為相關(guān)的研究論文提供數(shù)據(jù)。

3、控制產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品成本。

4、根據(jù)檢測報(bào)告的數(shù)據(jù)，改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。

5、協(xié)助公檢法部門對樣品質(zhì)量進(jìn)行檢測或成分化驗(yàn)。